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射频易商城_微波开关芯片_射频微波开关测试验证方法①

2023-05-24 责任编辑：未填浏览数：40 B2B商务网

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射频和微波开关测试①

引言：本文讨论射频和微波测试中如何提高测试吞吐量，并降低测试成本的方法及其测试系统基础。无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种 RFIC 和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高的频率，普遍都在 GHz 范围。本文讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类， RF 开关卡规格和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的 RF 开关设计中需要考虑的问题。无线通信产业的成长意味着无线设备的元器件和组件测试迎来了大爆发时期，这些测试包括对组成通信系统的各种 RF 器件和微波单片集成电路进行的测试。上述测试通常需要很高的频率，普遍都在 GHz 范围。如何解决射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类、 RF 开关卡规格等，帮助测试工程师提高测试吞吐量，并降低测试成本，成为 RF 开关设计中需要考虑的问题。射频开关和低频开关的区别将一个信号从一个频点转换到另一个频点看起来很容易，但要实现极低的信号损耗，实现起来却面临一系列问题。设计低频和直流（DC）信号的开关系统都需要考虑它们特有的参数，包括接触电位、建立时间、偏置电流和隔离特性等。高频信号与低频信号类似，也需要考虑其特有的参数。这些参数会影响开关过程中的信号性能，这些参数包括 VSWR（电压驻波比）、插入损耗、带宽和通道隔离等。另外，硬件因素比如端接、连接器类型、继电器类型，也会极大地影响这些参数。